WJR-200AM-2氧化诱导测定仪

技术特点：

1：氧化诱导期专用测试仪器，客户一键式操作，软件全自动运行。

2：全新传感器样品支架，全封闭结构设计，防止物品掉入到炉体中去。

3：仪器符合G B /T 19466.3- 2009   ISO 11357-3 2018氧化诱导期氧化诱导时间（等温OIT)和氧化诱导温度（动态OIT)的测定。

4：内嵌10寸超大工业级别的电脑，无需另配电脑，一体化设备，显示信息丰富，包括设定温度、样品温度，氧气流量，氮气流量，差热信号，各种开关状态,流量归零。

5：仪器右侧标配四B接口，方便用户外接鼠标、键盘、打印机，U盘等外部设备，方便用户使用。

6：仪器内部

7：数字气体质量流量计自动切换两路气氛流量，切换速度快，稳定时间短。

8：标配标准样品，方便客户校正恒温系数。

9：预安装软件，无电脑适应性问题，减少由于更换使用电脑，安装驱动错误导致的连接等问题。

10：支持用户自编程程序，实现测量步骤全自动化。软件提供数十种指令，用户可根据自己的测量步骤，灵活组合各指令，并保存。复杂的操作就简化成一键操作。

产品应用范围：

氧化诱导时间（OIT）是测定样品在高温（200摄氏度）氧气条件下开始发生自动催化氧化反应的时间，是评价材料在成型加工、储存、焊接和使用中耐热降解能力的指标。

氧化诱导期(简称OIT)方法是一种采用差热分析法（DTA）以塑料分子链断裂时的放热反映为依据，测试塑料在高温氧气中加速老化程度的方法。

其原理是：将塑料式样与惰性参比物（如氧化铝）置于差热分析仪中，使其在一定温度下用氧气迅速置换式样室内地惰性气体（如氮气）。测试由于式样氧化而引起的DTA曲线（差热谱）的变化，并获得氧化诱导期（时间）OIT（min),以评定塑料的防热老化性能。

仪器符合G B /T 19466.3- 2009/ISO 11357-3 :2018氧化诱导期。氧化诱导时间（等温OIT)和氧化诱导温度（动态OIT)的测定。

氧化诱导期已经被纳入管道行业及电线电缆强检范围。

技术参数：

1: 温度范围: 室温~500℃       

2: 温度分辨率: 0.01℃           

3: 升温速率: 0.1～80℃/min  

4: 控温方式：升温，恒温（全自动程序控制）

5: DSC量程:  0～±500mW      

6: DSC解析度: 0.001mW                         

7: DSC灵敏度: 0.001mW

8: 工作电源: AC 220V  50Hz或定制

9：气氛控制气体：氮气 氧气（仪器自动切换）

10：气体流量：0-200mL/min   

11: 气体压力：0.2MPa

12: 气体流量精度：0.2mL/min  

13: 选配坩埚：铝质坩埚Φ6.7*3mm  

14: 参数标准: 配有标准物质（铟，锡，锌），用户可自行校正温度和热焓

15: 数据接口：标准

16: 显示方式: 10寸工业电脑触摸显示，可外接鼠标、键盘、U盘、打印机

仪器外观结构：

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